Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
af Patrick Echlin
Bog, Hardback, Engelsk, 2009
The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.
Priser fra 4 boghandlere
- BoghandlerPrisFragtLevering
- SAXO1.029,95 kr.Gratis fragtUkendtKøb for 1.029,95 kr.Køb
- Bogreolen1.209,95 kr.0,00 kr.Ukendt - mangler pt.Køb for 1.209,95 kr.Køb
- Tales1.210,95 kr.34,95 kr.Ukendt - mangler pt.Køb for 1.210,95 kr.Køb
- Pling BØGER1.210,95 kr.34,95 kr.Ukendt - mangler pt.Køb for 1.210,95 kr.Køb
Bogdetaljer
- SprogEngelsk
- IndbindingHardback
- ISBN9780387857305
- Udgivet19/03/2009
- Udgivet afSpringer-Verlag New York Inc.
- Længde332 sider
- ForfatterPatrick Echlin
- GenreBusiness og læring, Videnskab