Billede af bogens forside - Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging

Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging

af Gan Chong Leong Gan, m.fl.

Bog, Paperback, Engelsk, 2023

Priser fra 4 boghandlere

Bogdetaljer

  • SprogEngelsk
  • IndbindingPaperback
  • ISBN9783031267093
  • Udgivet29/04/2023
  • Udgivet afSpringer Nature B.V.
  • Længde230 sider
  • ForfattereGan Chong Leong Gan, Huang Chen-Yu Huang
  • GenreBusiness og læring, Computer og IT