Billede af bogens forside - Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Instrumentation, Data Analysis and Applications

af Andrew T. S. (National University of Singapore Wee

Bog, Paperback, Engelsk, 2022

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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Bogdetaljer

  • SprogEngelsk
  • IndbindingPaperback
  • ISBN9783527349517
  • Udgivet13/04/2022
  • Udgivet afWiley-VCH Verlag GmbH
  • Længde208 sider
  • ForfatterAndrew T. S. (National University of Singapore Wee
  • GenreBusiness og læring, Videnskab