Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Instrumentation, Data Analysis and Applications
af Andrew T. S. (National University of Singapore Wee
Bog, Paperback, Engelsk, 2022
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
Priser fra 4 boghandlere
- BoghandlerPrisFragtLevering
- Bogreolen940,95 kr.0,00 kr.2-4 ugerKøb for 940,95 kr.Køb
- Tales941,95 kr.34,95 kr.2-4 ugerKøb for 941,95 kr.Køb
- Pling BØGER1.708,95 kr.34,95 kr.2-4 ugerKøb for 1.708,95 kr.Køb
- SAXO1.709,95 kr.Gratis fragtUkendtKøb for 1.709,95 kr.Køb
Bogdetaljer
- SprogEngelsk
- IndbindingPaperback
- ISBN9783527349517
- Udgivet13/04/2022
- Udgivet afWiley-VCH Verlag GmbH
- Længde208 sider
- ForfatterAndrew T. S. (National University of Singapore Wee
- GenreBusiness og læring, Videnskab