Physical Principles of Electron Microscopy
An Introduction to TEM, SEM, and AEM
af R.F. Egerton
Bog, Paperback, Engelsk, 2018
Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.
Priser fra 4 boghandlere
- BoghandlerPrisFragtLevering
- SAXO489,95 kr.39,95 kr.UkendtKøb for 489,95 kr.Køb
- Bogreolen692,95 kr.0,00 kr.2-4 ugerKøb for 692,95 kr.Køb
- Tales693,95 kr.34,95 kr.2-4 ugerKøb for 693,95 kr.Køb
- Pling BØGER693,95 kr.34,95 kr.2-4 ugerKøb for 693,95 kr.Køb
Bogdetaljer
- SprogEngelsk
- IndbindingPaperback
- ISBN9783319819860
- Udgivet30/05/2018
- Udgivet afSpringer International Publishing AG
- Længde196 sider
- ForfatterR.F. Egerton
- GenreBusiness og læring, Videnskab